LCR電橋HP4191A HP4192A阻抗分析儀

測試材料的阻抗Z，導納Y，電感L，電阻R介電損耗D 品質因數

射頻阻抗計量器具檢定系統

Verification Scheme of RF

Impedance Measuring Instruments JJG 2011-87

代替：高頻阻抗量值傳遞系統

射頻阻抗計量器具檢定系統

本檢定系統適用于射（高）頻集總參數阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設備和量具、標準件），規定了射頻（習慣上也稱高頻）集總參數阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。

一、計量基準器具

1、高頻集總參數阻抗的國家計量基準器具是指用于復現和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括電介質材料的復數介電常數和軟磁材料的復數導磁率）的計量設備和量具。

Agilent4192A低頻阻抗分析儀對諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的器件和基礎電子元件完成網絡分析和阻抗分析。對浮點接地器件也可加以測試。測量信號 （23°~±5℃）

頻率范圍 5Hz~13MHz

頻率步進 0.01Hz(5Hz~10kHz);0.01Hz(10kHz~100kHz);

0.1Hz(100kHz~1MHz)1Hz(1MHz~13MHz)

頻率精度 ±50ppm

振蕩器電平 5mV~1.1Vrms可變，50Ω（幅度-相位測量）或開路（阻抗測量）

振蕩器電平步進 1mV(5mV~100mV);5mV(100mV~1.1V)

電平監視（阻抗測量）： 可監視穿通電流或端電壓取樣

控制： 通過前面板或agilent-IB進行點頻和掃頻測量。