·半導體器件高精度測量
上限達2000V或電流到10A的源（370A）
上限到3000V（371A）

-上限到220W（370A）

-上限到400A（371A）

-1nA的測量分辨率

-上限到3000W（371A）

·上限到2mV的測量分辨率（370A）

·波形對比

·包絡顯示

·波形平均

·點光標（370A）

·Kelvin傳感測量

·全程控

·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調用

應用

手動或自動進行半導體高分辨率DC參數測量

來料檢查

生產測試

過程監視及質量控制

數據報告的生成

元件配對

失效分析

工程測試

交互式程控

所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調整和存儲操作參數，包

括370A的非易失存儲器、內置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。

測試夾具

測試夾具是標準附件，它提供被測器件**防護，以保護測量人員的**。測試夾具適應標準的A1001，中間通

過Kelvin傳感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。