• 1MHz～3GHz，以10kHz分檔
• 阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3kΩ
• 在低試信號電平上具有優(yōu)良的測量重復(fù)性
• 基本精度為1%
• 高速測量:10ms

是德(原安捷倫) 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供**、可靠和快速測量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行**測量。

生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠

是德(原安捷倫) 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。4287A的測量速度非常快。此外，在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。

系統(tǒng)組建簡單

測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點(diǎn)附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

便于使用

8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7，SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作專用夾具。

技術(shù)指標(biāo)

測量參數(shù)：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ 
測量電路形式：串聯(lián)和并聯(lián) 
工作頻率：1 MHz～3 GHz 
頻率分辨率：10 kHz 
信號源特性： 
振蕩器電平：5mVrms～0.25Vrms(輸出端開路) 
電平顯示單位：V，I，dBm 
連接器：APC-3.5 
輸出阻抗(額定值)：50Ω 
觸發(fā)：內(nèi)部，外部，手動和GPIB 
阻抗測量范圍：200 mΩ～3 kΩ 
基本測量精度：|Z|:1%；D:0.01 
測量時間：10 ms 
接口：GPIB，處理器接口 
顯示器：8.4英寸彩色LCD顯示器 
儲存：內(nèi)置HDD/FDD，備用SRAM存儲器