- 分光測(cè)色計(jì)
- 鎖相放大器
- 毫微表/微歐表
- 皮安計(jì)/靜電計(jì)/高阻表
- 其他
- 高阻測(cè)試儀
- 皮套
- 微波分析儀
- 頻譜分析儀(信號(hào)分析儀)
- 信號(hào)源／信號(hào)發(fā)生器
- 數(shù)字示波器
- 網(wǎng)絡(luò)分析儀
- 網(wǎng)絡(luò)/頻譜/阻抗分析儀
- 示波器
- 阻抗分析儀
- 數(shù)字萬用表
- 信號(hào)發(fā)生器
- 多功能校準(zhǔn)儀
- 耐壓測(cè)試儀
- 藍(lán)牙、WiFi、GPS測(cè)試儀
- 電源測(cè)量單元
- 交流電源
- 脈沖函數(shù)任意噪聲發(fā)生器
- 脈沖碼型發(fā)生器
- 靜電信號(hào)發(fā)生器
- 測(cè)試接收機(jī)
- 電視信號(hào)發(fā)生器
- 電能質(zhì)量分析儀
- 波形發(fā)生器合成模塊
- 可編程交流電源
- 電子負(fù)載
- 直流電源
- 函數(shù)/任意波形發(fā)生器
- 耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
- 電池測(cè)試儀
- 光示波器
- LCR電橋
- 示波器校準(zhǔn)器
- 萬用表校準(zhǔn)儀
- 無線綜合測(cè)試儀
- EMI 接收機(jī)
- 雷擊浪涌發(fā)生器
- 靜電放電模擬試驗(yàn)器
- 半導(dǎo)體測(cè)試儀
- 天饋線／駐波比測(cè)試儀
- 雷擊浪涌耦合/去耦
- 直流電子負(fù)載
- 光功率計(jì)
- 音頻分析儀
- 手持式矢量網(wǎng)絡(luò)綜合分析儀
- 放大器
- 脈沖群發(fā)生器/模擬試驗(yàn)器
- 探頭
- 程控電源
- 電流探頭
- 晶體管測(cè)試儀
- 數(shù)字源表
- 靜電放電發(fā)生器
- 視頻分析儀
- 安規(guī)綜合測(cè)試儀
- 波形發(fā)生器
- 夾具/治具
- 動(dòng)態(tài)分析儀
- 頻率計(jì)
- 無線網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀
- 校準(zhǔn)儀
- 光源模塊
- 毫歐表|高阻計(jì)|高阻測(cè)試儀
- 示波器探頭
- 函數(shù)信號(hào)發(fā)生器
- 功率計(jì)/功率分析儀/功率傳感器
- 無線網(wǎng)絡(luò)多路測(cè)試儀
- 混合信號(hào)示波器
- 納伏表/微歐表
- 手持頻譜分析儀
- 光波長(zhǎng)計(jì)
- 接收機(jī)
- 色度計(jì)／亮度計(jì)/色彩分析儀
- 銣鐘/頻率標(biāo)準(zhǔn)
- 信號(hào)源分析儀
- 皮安表
- 噪聲源/噪聲分析儀
- 功率傳感器
- 光頻譜分析儀
- 電源
- 信號(hào)圖形產(chǎn)生器
- 測(cè)試儀
- 校準(zhǔn)件
- GPIB卡／線
- 基站測(cè)試儀
- 數(shù)據(jù)采集儀／采集卡
- 電阻計(jì)
- 可視紅外測(cè)溫儀
- 其他儀器儀表
- 無線連接測(cè)試儀
- 脈沖信號(hào)發(fā)生器
- 直流電源分析儀
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- 高電阻靜電計(jì)
- 波形分析儀
- 電時(shí)鐘恢復(fù)
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回收Keysight/是德科技 N5245B N5241B網(wǎng)絡(luò)分析儀
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N5245B PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀，900 Hz/10 MHz 至 50 GHz
10 MHz 至 50 GHz，2 端口和 4 端口，多達(dá)三個(gè)信號(hào)源。
特點(diǎn)
實(shí)現(xiàn)**性能
這款 PNA-X 分析儀不僅僅是一款矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，在測(cè)量放大器、混頻器和變頻器等有源器件方面，它們也是功能**和靈活的微波測(cè)試引擎。 它的硬件包括兩個(gè)內(nèi)部信號(hào)源、一個(gè)信號(hào)合路器、S 參數(shù)和噪聲接收機(jī)、脈沖調(diào)制器和發(fā)生器以及一組開關(guān)和射頻接入點(diǎn)。 這些硬件為進(jìn)行各種線性和非線性測(cè)量提供了功能強(qiáng)大的核心，只需通過一組連接與被測(cè)器件相連，即可執(zhí)行所有這些測(cè)量。
一臺(tái) PNA-X 網(wǎng)絡(luò)分析儀便可代替整套測(cè)試設(shè)備，顯著簡(jiǎn)化您的測(cè)試系統(tǒng)。
豐富的單次連接測(cè)量應(yīng)用軟件有助于縮短測(cè)試時(shí)間
先進(jìn)的誤差校正功能確保**地測(cè)試線性和非線性器件特征
豐富的測(cè)量應(yīng)用軟件任您選擇，幫助您輕松操作，提高先進(jìn)射頻測(cè)試的速度和精度。
多點(diǎn)觸控屏和直觀的用戶界面幫助您加速洞察元器件特性。
