日置HIOKI阻抗分析儀IM3570

產品概述

日置HIOKI阻抗分析儀IM3570是一款集成了LCR電橋與阻抗分析儀功能的**測量儀器。它支持4Hz至5MHz的測量頻率和5mV至5V的測試信號電平，適用于多種測量條件下的高速連續測量。IM3570不僅在LCR模式下實現了1.5ms（1kHz）和0.5ms（100kHz）的高速測量，而且在基本精度上達到了±0.08%，確保了高精度的測量結果。

主要特點

測量速度與精度

IM3570在LCR模式下的測量速度非常快，1kHz時為1.5ms，100kHz時為0.5ms，這比之前的型號（如3522-50和3532-50）快了將近一倍。此外，IM3570在低阻抗測量時的重復精度提高了1位，這意味著測量結果更加可靠。

測量模式與功能

該儀器支持LCR測量、DCR測量、掃描測量等多種測量模式。在分析儀模式下，可以進行掃頻測量、電平掃描測量和時間間隔測量。這些功能使得IM3570能夠滿足不同客戶的需求，無論是壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，還是電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量，都能夠輕松應對。

操作便捷性

IM3570延續了以往產品中操作簡單的觸摸屏設計，并采用了彩色液晶面板，能夠清晰地顯示數據，提高了操作性。這對于提高作業人員的工作效率非常有幫助。